SEM掃描電鏡樣品制備之樣品熱穩(wěn)性要好,且不會(huì)被電子束分解
日期:2023-07-17 13:43:31 瀏覽次數(shù):53
電子束下樣品熱穩(wěn)性要好,且不會(huì)被電子束分解。在掃描電鏡正常觀察圖像時(shí),電子探針的束流通常為 nA 級(jí)別,所以對(duì)于大多數(shù)樣品,受熱不是問題。但對(duì)一些熱敏材料會(huì)出現(xiàn)損傷,觀察部位出現(xiàn)起泡、龜裂、孔洞(熱損傷),甚至有些樣品在高溫下分解,釋放氣體或物質(zhì)(熱分解),當(dāng)他們進(jìn)入電鏡內(nèi)部,勢(shì)必會(huì)影響電鏡性能,甚至引起故障。
解決方案:
這類樣品多為生物和有機(jī)聚合物樣品,在表面鍍膜可以提高樣品的穩(wěn)定性,觀察時(shí)也盡量選擇較小加速電壓和束流強(qiáng)度,以減少電子束對(duì)樣品的損傷。
聯(lián)系我們
全國(guó)服務(wù)熱線
4001-123-022
公司:微儀光電臺(tái)式掃描電子顯微鏡銷售部
地址:天津市東麗區(qū)華明**產(chǎn)業(yè)區(qū)華興路15號(hào)A座
相關(guān)資訊推薦
- SEM掃描電鏡如何進(jìn)行礦產(chǎn)資源評(píng)估
- SEM掃描電鏡怎么檢測(cè)文物的微觀結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分
- 掃描電鏡(SEM)拍攝條件選擇與拍攝常見問題的解決方法
- 我們?cè)谑褂肧EM掃描電鏡的過程中會(huì)遇到常見問題、原因及解決方案分享
- SEM掃描電鏡如何觀察細(xì)胞的超微結(jié)構(gòu)
- SEM掃描電鏡對(duì)于生物樣品要怎么制備
- SEM掃描電鏡如何分析各種環(huán)境樣品的形貌
- SEM掃描電鏡的基本原理介紹
- SEM掃描電鏡在集成電路領(lǐng)域中的優(yōu)勢(shì)介紹
- SEM掃描電鏡怎么檢測(cè)集成電路的制造缺陷